SunScan植物冠層分析儀在測(cè)量大豆葉面積指數(shù)中的應(yīng)用

SunScan植物冠層分析儀是一種利用間接測(cè)量法觀測(cè)葉面積指數(shù)（LAI）的儀器，通過給定反映植被幾何特征的橢球體葉傾角分布參數(shù)（ELADP），測(cè)量透射率獲得LAI。于2005、2006年在黑龍江省嫩江縣鶴山農(nóng)場(chǎng)布設(shè)大豆試驗(yàn)地，通過比較LI-3100葉面積儀直接測(cè)量的LAI和SunScan冠層分析儀間接測(cè)量的LAI，得出ELADP率定結(jié)果，并驗(yàn)證了SunScan冠層分析儀測(cè)量LAI的精度。結(jié)果表明：用SunScan測(cè)量大豆冠層LAI時(shí)，ELADP取值為4．0；設(shè)定該參數(shù)后，SunScan測(cè)量的LAI與LI-3100測(cè)量結(jié)果一致，二者擬合的線性回歸方程顯著；隨生長(zhǎng)季葉面積的變化，SunScan測(cè)量誤差略有變化；播種后50～85d，Sun—Scan觀測(cè)值偏低7．2％，播種96d以后觀測(cè)值偏高12．5％，播種后85～96d與LI-3100觀測(cè)值十分接近，誤差只有2．0％；經(jīng)過參數(shù)率定后的SunScan測(cè)量LAI效果較好。